功能測(cè)新的發(fā)展，DDR的導(dǎo)電膠使用，讓功能測(cè)的有一個(gè)新的發(fā)展。小編帶您認(rèn)識(shí)一下。
     功能測(cè)試治具能夠檢測(cè)大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證，確定沒有硬件錯(cuò)誤，以彌補(bǔ)前面測(cè)試過程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元(UUT)上，同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過程。

功能測(cè)試治具可在產(chǎn)品制造生命周期不同階段應(yīng)用，首先是工程開發(fā)階段，在系統(tǒng)生產(chǎn)驗(yàn)證前確認(rèn)新產(chǎn)品功能；然后在生產(chǎn)中也是必須的，作為整個(gè)流程的一部分，通過昂貴的系統(tǒng)測(cè)試降低缺陷發(fā)現(xiàn)成本(遺漏成本)；在發(fā)貨付運(yùn)階段也是不可缺少的，它可以減少在應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)維修的費(fèi)用，保證功能正常而不會(huì)被送回來。當(dāng)前DDR4已經(jīng)發(fā)展相當(dāng)成熟了，電壓降低了，增加了地址線，支持了更大的容量，不過速度也有了明顯的提升。從1600MHz~3200MHz 甚至更高，這類測(cè)試座的產(chǎn)品的要求已經(jīng)變高了，需要高速率，高頻率（1600~3200MT/s）的工作，一些探針的產(chǎn)品已經(jīng)無法滿足這類測(cè)試要求了，所以跟之前一樣，采用了導(dǎo)電膠的產(chǎn)品去替代了探針。導(dǎo)電膠，是一種固化或干燥后具有一定導(dǎo)電性的膠粘劑。它可以將多種導(dǎo)電材料連接在一起，使被連接材料間形成電的通路。DDR的導(dǎo)電膠使用的更為的材料，中心采用金線，導(dǎo)電膠的厚度比較薄，能夠很好的配合測(cè)試，能夠匹配測(cè)試的速度以及頻率。當(dāng)前導(dǎo)電膠的頻率可以超過40GHz,延時(shí)6.4ps，這種材質(zhì)能夠很好的配合DDR高速顆粒的測(cè)試，同時(shí)因其薄和過流能力強(qiáng)，測(cè)試配合完美。當(dāng)前很多的主流內(nèi)存條廠商，都是有在使用，這種DDR的導(dǎo)電膠治具測(cè)試快，操作簡單。

   您是不是對(duì)功能測(cè)有了新的認(rèn)識(shí)呢？